扫描电子显微镜（SEM）是利用二次电子和背散射电子信号，通过真空系统、电子束系统和成像系统获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等的一种分析仪器，随着科学技术水平的提高，其放大倍数可达几十万倍，分辨率可达纳米级别，是形貌和成分分析领域极其重要的一种工具。
【科学指南针SEM测试能力】可以做磁性和非磁性样品形貌，以及能谱点扫，线扫，mapping测试，可做背散射，可以喷金，喷碳，液氮脆断制样。
【科学指南针SEM样品要求】：粉体样品仅需要10mg即可，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm（具体可调整）；液体样品不少于0.5 ml，常规溶剂是水或乙醇，如是类似四氯化碳，乙二醇，乙酸乙酯，甘油等不挥发溶剂或有毒溶剂等请提前告知检测单位，否则可能无法测试；薄膜或块体，请标明测试面，如需测试截面，请自行自备截面或提前说明（可提供液氮淬断或者剪刀裁剪两种制取截面方式）。
在进行SEM（扫描电子显微镜）测试时，有一些注意事项需要遵守：
1. **抽真空处理**：在给样品测量之前，一定要进行抽真空处理，因为扫描电镜是靠电子束扫描物体表面来成像的。空气的存在会使的电子束变型，影响扫描效果
2. **样品制备**：样品为干燥无水固体，无易挥发溶剂，观察面应该清洁，无污染物
3. **导电和导热性能**：导电性不好（如半导体金属氧化物、生物样品及塑料、陶瓷等）或强磁样品建议选择喷金，不喷金可能会影响拍摄效果
4. **样品位置**：如果只有一个待测样品，可以直接在电脑上操作将样品拖入中心区域。如果是多个样品，则需要记住样品所在位置的编号（样品台上有），将对应编号放入电子枪正下方
5. **样品高度**：将样品放入电子枪正下方后，需要调整其高度，使样品上表面达到距电子枪既定的或者理想的距离，一般10mm左右
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